Решается задача повышения отказоустойчивости запоминающих устройств и обеспечения простоты технического обслуживания для бортовых микроэлектронных систем управления космическими аппаратами с продолжительным сроком эксплуатации. Предлагается архитектура отказоустойчивого запоминающего устройства со встроенными средствами самотестирования и автоматическим восстановлением работоспособности при многократных отказах.
展开▼