首页> 外文期刊>Applied optics >Extended focus depth for Gaussian beam using binary phase diffractive optical elements
【24h】

Extended focus depth for Gaussian beam using binary phase diffractive optical elements

机译:使用二进制相位衍射光学元件扩展高斯光束的焦点深度

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           

摘要

A novel technique to improve the focus depth of a Gaussian beam is presented in this paper. The improvement is based on two-step beam shaping using a cascade of binary phase diffractive optical elements (BPDOEs). The first BPDOE transforms the incident Gaussian beam into a high-order radial Laguerre-Gaussian beam (LG(p0)). Then the second BPDOE rectifies the obtained LG(p0) beam and gives rise to a quasi-Gaussian one in the focal plane of a converging lens. This resulting quasi-Gaussian beam exhibits a lower divergence and larger focus depth compared to the pure Gaussian beam having the same beam waist. These results open new possibilities in laser beam manufacturing and micromachining, and in applications that need an extended focus depth. (C) 2018 Optical Society of America
机译:本文提出了一种改进高斯光束焦深的新技术。 改进基于使用二进制相位衍射光学元件(BPDOES)的级联的两步光束整形。 第一BPDoe将事件高斯光束转换为高阶径向拉格勒 - 高斯光束(LG(P0))。 然后,第二BPDOE将获得的LG(P0)光束整流,并在会聚透镜的焦平面中产生了准高斯彼此。 与具有相同梁腰部的纯高斯光束相比,该得到的准高斯光束具有较低的发散和更大的焦深。 这些结果开辟了激光束制造和微机械的新可能性,以及需要扩展焦深的应用。 (c)2018年光学学会

著录项

  • 来源
    《Applied optics》 |2018年第8期|共5页
  • 作者单位

    Univ Bordj Bou Arreridj Fac Sci &

    Technol Dept Electromecan Bba 34000 Algeria;

    Univ Caen Ctr Rech Ions Mat &

    Photon ENSICAEN CEA CNRS UMR 6252 6 Blvd Marechal Juin F-14050 Caen France;

    Univ Caen Ctr Rech Ions Mat &

    Photon ENSICAEN CEA CNRS UMR 6252 6 Blvd Marechal Juin F-14050 Caen France;

  • 收录信息
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类 应用;
  • 关键词

获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号