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Computed time average digital holographic fringe pattern under random excitation

机译：随机励磁下计算的时间平均数字全息条纹图案

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摘要

Time average digital holography under random excitation or square wave excitation is established as an on-site non-destructive testing tool for defect detection in large metallic and composite sandwich structures due to its high sensitivity, single exposure interferogram, and fast inspection capability. However, extensive calibration studies are necessary to corroborate the defect type and defect size with the excitation frequency range and excitation magnitude. In this paper, a method to simulate a time average digital holographic fringe pattern under random excitation is proposed with the idea to minimize the number of calibration experiments and also for better evaluation of the size and type of defect. The proposed method circumvents the requirement for a dosed form expression for the complex characteristic fringe function for time average interferometry under random excitation. The computed fringe pattern is illustratively compared with an experimental time average digital holographic fringe pattern. (C) 2020 Optical Society of America
机译：随机激励或方波激励下的时间平均数字全息因其高灵敏度、单次曝光干涉图和快速检测能力而被确立为大型金属和复合材料夹层结构缺陷检测的现场无损检测工具。然而，需要进行广泛的校准研究，以证实缺陷类型和缺陷尺寸与激励频率范围和激励幅度之间的关系。本文提出了一种在随机激励下模拟时间平均数字全息条纹图的方法，其目的是减少校准实验的次数，并更好地评估缺陷的大小和类型。该方法避免了随机激励下时间平均干涉测量中复杂特征条纹函数的剂量形式表达式要求。计算得到的条纹图与实验时间平均数字全息条纹图进行了比较。（C） 2020美国光学学会

著录项

  • 来源
    《Applied optics》 |2021年第4期|共7页
  • 作者

    Thomas Binu P.; Pillai S. Annamala; Narayanamurthy C. S.;

  • 作者单位

    Vikram Sarabhai Space Ctr Expt Mech Div Thiruvananthapuram 695022 Kerala India;

    Rajadhani Inst Engn &

    Technol Dept Mech Engn Attingal 695102 India;

    Indian Inst Space Sci &

    Technol Dept Phys Thiruvananthapuram 695547 Kerala India;

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  • 正文语种 eng
  • 中图分类 应用;
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