机译:Windows在椭偏测量中
机译:椭圆光度法准牛顿法校正大延迟窗效应
机译:校正用于原位椭偏测量的窗口的大双折射效应
机译:椭偏测量中窗口线性双折射的原位校正
机译:结合光束轮廓反射法(BPR〜(TM)),绝对椭圆仪(AE〜(TM))和光谱椭圆仪(SE)的多域遗传算法(MDGA)测量193nm TNK薄膜
机译:通过角分辨X射线光电子能谱,零椭偏法和电容电压测量研究氧化物/硅界面的结构和电学性质
机译:取决于冷却速率的椭偏测量法以确定薄玻璃膜的动力学
机译:腐蚀测量技术的特殊问题/趋势和未来。现代椭圆形。光谱椭圆形和红外椭圆形测定法。