測光用光センサのオーバーフィル照射における応答非直線性の評価法の確立

田辺 稔; 木下 健ー

首页> 外文期刊>照明学会誌 >測光用光センサのオーバーフィル照射における応答非直線性の評価法の確立

【24h】

測光用光センサのオーバーフィル照射における応答非直線性の評価法の確立

机译：測光用光センサのオーバーフィル照射における応答非直線性の評価法の確立

获取原文

获取原文并翻译 | 示例

掌桥外文数据库（机构版） >>

开具论文收录证明 >>

文献代查 >>

页面导航

摘要
著录项
相关主题

摘要

シリコンフォトダィオード(Si PD)を用いた光センサは,熱型や焦電型の光センサと比較して,低い暗電流,高速な応答,広い光パワーレンジや波長帯域で,精密な光計測や評価が可能であるため,測光,測色,放射測定などの分野で多用されている.このような分野におけるSi PDを用いた精密計測では,光センサの出力値を校正することで,光源から放射される光パワーの絶対値測定が可能となる.ところが,この絶対計測可能な光パワー範囲は,数十マィクロワットから数十ミリワットと限定的である.この校正された光センサを用いて,光パワー測定の有用性を最大限に生かすためには,校正された光パワー以外での絶対評価が必要である.

著录项

来源
《照明学会誌》 |2019年第6期|208-211|共4页
作者
田辺稔; 木下健ー;
展开▼
作者单位

国立研究開発法人産業技術総合研究所;

展开▼
收录信息
原文格式 PDF
正文语种日语
中图分类电气化、电能应用;
关键词
silicon photodiode; illuminance meter; linearity; photometry; radiometry;

測光用光センサのオーバーフィル照射における応答非直線性の評価法の確立

摘要

著录项

相关主题

期刊订阅