FFTアナライザの科学計測応用: 第6回 FFTアナライザに向く試験信号の作り方

魚田隆; 魚田慧

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FFTアナライザの科学計測応用: 第6回 FFTアナライザに向く試験信号の作り方

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前回に続き，FFTアナライザの応用に向けて，試験信号について解説していきます．取り上げるのは，マルチサイン（Multi-Sine）と時間引き延ばしパルス（Time Stretched Pulse; TSP）です．FFTアナライザで，精度と時間効率（本来この2つは相反する）のどちらも良好に伝達関数を測定するには，試験信号を適切に選ぶことがきわめて重要です．その用意として，実験機は16ビットDAC+512Kwordパターン·メモリによる任意波形発生器を内蔵しています．取り込み側と完全同期した試験信号源ならではの応用を期待できます．外部信号源では取り込み側と非同期なので「洩れ」による誤差が生じますし，後に解説する同期化アベレージを活用したS/N改善が困難なので，同期して動作する内蔵信号源であることが重要です．とくに，1980年代に日本人によって考案されながら，当時のプアなCPU性能では残念にも普及に至らなかったTSPについては詳細に紹介したいと思います．

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来源
《トランジスタ技術》 |2021年第684期|190-195|共6页
作者
魚田隆; 魚田慧;
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作者单位

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收录信息
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正文语种日语
中图分类半导体三极管（晶体管）;
关键词

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