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干渉計測技術の今とこれから

机译：干渉計測技術の今とこれから

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干渉技術の基本技術は2000年までにほぼ確立されたといえる．今世紀以降のコンピュータのハードウェアおよびソフトウェアの急速な発展とともに，高速，高精度かつ大領域計測が確立され，さらには実時間解析に向かっている．しかしながら，さまざまな技術は，残念ながら数十メートルからナノメートルを一台の計測装置でカバーするようなスーパースターは登場していない．個々の計測オーダに対応したさまざまな手法が実用化されている状況である．まだまだ高価な感がある光コムが，光源，素子，デイテクタなどのハードウエアの普及につれて利用可能となっていくと思われる．さらに，ゴーストイメージング·シングルピクセルイメージング，さらにはIoTに代表されるDeep learningや機械学習，AIを取り入れた新規分野には，さらにコンピュータ技術の発展が必要である．一方では，干渉計というハード技術はほとんど進化せず，コンビユータの処理技術がますます主流になる．このように混とんとした干渉技術の将来を予想するのはかなり難しいが，最近実用化のためには高速，高精度が求められている干渉技術として期待する．

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