首页> 外文期刊>電子情報通信学会論文誌, B. 通信 >C-Cu接点の開離時放電に伴い発生するインパルス性ノイズの抑制法の提案
【24h】

C-Cu接点の開離時放電に伴い発生するインパルス性ノイズの抑制法の提案

机译:C-Cu接点の開離時放電に伴い発生するインパルス性ノイズの抑制法の提案

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           

摘要

インダクタンス負荷におけるC(人造黒鉛)とCu(無酸素銅)の異種対向接点閉経時の放電消滅時刻付近で生じるインパルス性ノイズについて,発生源である放電現象に着日した抑制手法について検討した. まず-電流極性の影響について検討した結鼠Cu(陰極)- C(陽極)の場合において放電消滅直前に放電電圧は低く,放電消滅時刻の付近でレベルの高いインパルス性ノイズが発生することがわかった.また,放電継続時岡の影響について調べたところ,継続時間が短い場合にレベルの高いインパルス性ノイズが発生する頻度が高いことが明らかになった.これらの知見より,放電消滅直前の放電電圧を上昇させるために炭化水素抽を含浸したCを僅増する手法と,放電継続時間を長くするためにCu側に低融点金属Znを40wt%配合した接点材料を使用する二つのノイズ抑制手法を提案した.これらを検証した結果,両手法ともにノイズ抑制効果を実証することができた.

著录项

获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号