Методами рентгеноструктурного аналгзу та IЧ-епектроскопг дослiджено структуру' та прoцеси сгрукryг.оут- ворення в полгелектролгтних комплексах на основг пектину та полгетиленгмгну. Охарактеризовапо тaкoж сорбцгйнг властивоcтг створених полгмерних систем сгосавно йонгв Си2+, Pb2+, Сд+ y динаМгчному та с:игич- ному режимах.
展开▼