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原子スケール構造制御技術でアプローチするシリコンナノワイヤトランジスタの開発

机译:原子スケール構造制御技術でアプローチするシリコンナノワイヤトランジスタの開発

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摘要

特にSiNW FETにおいては,直径10nm級の微細なチャネルの形成にはまさに原子スケールの構造制御技術が必要とされる.われわれのグループではSNW FET製造技術の課題の中,特にSiNWチャネル形成技術に注力して研究を行っている.今回,異なる面方位のSi表面同一条件平坦化技術,FETプロセスに適用可能なSi表面の原子層エッチング技術,およびそれらを活用した,原子スケールで構造制御された微細SiNWトランジスタの形成に関して紹介する.

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