...
首页> 外文期刊>Elektronika: Konstrukcje, technologie, zastosowania >Uk#322;ad kontroli parametrów #347;rodowiskowych w komorze pomiarowej mikroskopu NC-AFM
【24h】

Uk#322;ad kontroli parametrów #347;rodowiskowych w komorze pomiarowej mikroskopu NC-AFM

机译:Uk#322;ad kontroli parametrów #347;rodowiskowych w komorze pomiarowej mikroskopu NC-AFM

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           

摘要

Mikroskopia bliskiego pola jest jedn#261; z metod diagnostyki powierzchni w skali mikro-i nanometrowej. Poniewa#380; uzyskane wyniki zale#380;e#263; mog#261; od stanu powierzchni istotna jest kontrola warunków w komorze pomiarowej. Przedstawiono rozwi#261;zanie umo#380;liwiaj#261;ce pomiar temperatury oraz wilgotno#347;ci powietrza przy u#380;yciu cyfrowego czujnika firmy Sensirion.

著录项

获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号