マハラノビス距離による学習を用いた大局的欠陥検査法

沼田宗敏; 輿水大和

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マハラノビス距離による学習を用いた大局的欠陥検査法

机译：マハラノビス距離による学習を用いた大局的欠陥検査法

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本研究では，キズなどの局所的欠陥とうす汚れなどの大局的欠陥の両方を，画像処理で精度よく検出する方法を提案した．提案手法ではまず，画像全体にn階層の平均処理を行い，これを1画素単位でみたときのn次元特徴空間を定義する．続いて，このn次元特徴空間を用いて良品サンプル画像を複数枚学習させる．最後に，検査対象画素のn次元特徴空間におけるマハラノビス距離を計算し，これを判定値と比較することで局所的欠陥および大局的欠陥を検出する．そして，シミュレーションと実験により，提案手法が従来の統計的検査手法よりも欠陥検出能力が高いこと，また平均処理の階層数nを大きくするほど，大局的欠陥を検出しやすくなること，実用的にはn=3で十分であることなどを確認した．

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来源
《精密工学会誌》 |2009年第890期|262-266|共5页
作者
沼田宗敏; 輿水大和;
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作者单位

㈱ロゼフテクノロジー;

中京大学情報理工学部;

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收录信息
原文格式 PDF
正文语种日语
中图分类机械制造工艺;仪器、仪表;
关键词

マハラノビス距離による学習を用いた大局的欠陥検査法

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