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【24h】

Axial nanoscale localization by normalized total internal reflection fluorescence microscopy

机译：通过归一化全内反射荧光显微镜进行轴向纳米级定位

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We present a simple modification of a standard total internal reflection fluorescence microscope to achieve nano-metric axial resolution, typically ≈10 nm. The technique is based on a normalization of total internal reflection images by conventional epi-illumination images. We demonstrate the potential of our method to study the adhesion of phopholipid giant unilamellar vesicles.
机译：我们提出了对标准全内反射荧光显微镜的简单修改，以实现纳米级轴向分辨率，通常为≈10 nm。该技术基于传统落射照明图像对全内反射图像的归一化。我们展示了我们的方法在研究磷脂巨型单层囊泡粘附方面的潜力。

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