Im Rahmen des IGF-Forschungsvorhabens 17405N "Einfluss des Lotpastendrucks auf die Zuverlassigkeit der Lotstellen kritischer keramischer SMD-Komponenten auf FR4-Leiterplatten" wurde die Zuverlassigkeit von gezielt durch Variation von Leiterplattenlayout und Lotpastenmenge geanderten Lotstellengeometrien kleiner und grosser keramischer Komponenten unter Einsatz von mikrolegierten und niedrig-schmelzenden Loten systematisch betrachtet. Auf Basis der Untersuchungsergebnisse wurden Prozessempfehlungen fur das Leiterplatten- und Schablonendesign sowie fur den Lotpastendruck herausgearbeitet. Insbesondere fur kleine Komponenten wurden Prozessgrenzen hinsichtlich des Lotpastendrucks definiert.
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