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【24h】

IMAGE PROCESSING - Software adds upgraded edge detection

机译:图像处理 - 软件增加了升级的边缘检测

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摘要

One of the highlights of the Vision Summit held in conjunction with NIWeek 2007 was a presentation by Dinesh Nair, principal architect of the Research and Development Group at National Instruments (NI; Austin, TX, USA; www.ni.com). In his presentation, Nair explained the principles behind the latest edge-detection algorithms that the company is including with the newly released version of the NI Vision 8.5 Development Module.
机译:与NIWeek 2007同时举行的愿景峰会的亮点之一是National Instruments(NI;美国德克萨斯州奥斯汀;www.ni.com)。在 演示 文 中, Nair 解释了 公司 新 发布 的 NI Vision 8.5 开发 模 块 所 包含 的 最新 边缘 检测 算法 的 原理。

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