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首页> 外文期刊>IEEE Transactions on Automatic Control >Determination of an optimum set of testable components in the fault diagnosis of analog linear circuits
【24h】

Determination of an optimum set of testable components in the fault diagnosis of analog linear circuits

机译：在模拟线性电路的故障诊断中确定一组最佳的可测试组件

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A procedure for the determination of an optimum set of testable components in the fault diagnosis of analog linear circuits is presented. The proposed method has its theoretical foundation in the testability concept and in the canonical ambiguitygroup concept. New considerations relevant to the existence of unique solution in the k-fault diagnosis problem of analog linear circuits are presented, and examples of application of the developed procedure are considered by exploiting a software package based on symbolic analysis techniques.
机译：提出了在模拟线性电路故障诊断中确定一组最佳可测试元件的程序。所提方法的理论基础是可测试性概念和规范模糊群概念。提出了模拟线性电路k故障诊断问题中唯一解存在的新考虑因素，并利用基于符号分析技术的软件包考虑了所开发程序的应用实例。

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