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首页> 外文期刊>Metrologia: International Journal of Scientific Metrology: = Internationale Zeitschrift fur Wissenschaftliche Metrologie: = Journal International de Metrologie Scientifique >Absolute calibration of X-ray semiconductor detectors against synchrotron radiation of the VEPP-3 storage ring
【24h】

Absolute calibration of X-ray semiconductor detectors against synchrotron radiation of the VEPP-3 storage ring

机译：针对VEPP-3存储环的同步加速器辐射对X射​​线半导体探测器进行绝对校准

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The results are presented of absolute spectral responsivity measurements for SPPD11 and SPPD11-04 pulse-type silicon semiconductor detectors (developed by the Research Institute of Pulse Technique, Moscow), carried out over the X-ray energy range from 1.5 keV to 20 keV with a relative uncertainty (k=1) of typically 5×10~(-2). In our measurements, the detector is positioned in a calculable synchrotron radiation flux behind filters of well-known transmittance. The spectral responsivity of the detector is restored on the basis of measurement data using a set of integral equations. Two procedures have been developed to improve the calibration accuracy: one for the experimental determination of the X-ray transmittance near the K absorption edge of the filters used, with a relative uncertainty not exceeding 2×10~(-2); and another for the estimation of the angular spread of the electrons.
机译：结果显示了在1.5 keV至20 keV的X射线能量范围内，对SPPD11和SPPD11-04脉冲型硅半导体探测器（由莫斯科脉冲技术研究院开发）进行的绝对光谱响应度测量。相对不确定度（k = 1）通常为5×10〜（-2）。在我们的测量中，将检测器放置在已知透射比的滤波器后面的可计算同步加速器辐射通量中。基于测量数据，使用一组积分方程可恢复检测器的光谱响应度。已经开发出两种方法来提高校准精度：一种用于实验确定所用滤光片的K吸收边缘附近的X射线透射率，相对不确定度不超过2×10〜（-2）。另一个用于估计电子的角展度。

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