Physico-chimie des surfaces 'polygomeres' par mesures de forces AFM

C. Devaux; J.P. Chapel

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Les energies interfaciales d'adhesion deviennent accessibles par l'emploi de modeles appropries (poisson, JKR ,..). La detection de la deflexion (Az) s'effectuant a l'aide d'un laser (resolution au 1/10 nm) et les constantes de raideur actuellement accessibles variant de 10~3 a 1 N/m, la resolution en force peut atteindre 10~(-12) N. Cette valeur est typiquement de l'ordre de grandeur de l'elasticite entropique d'un polymere, Lapproche de la surface vers la pointe correspond a un deplacement de la droite vers la gauche sur la courbe. D'abord importante, la distance entre pointe et surface diminue. Le ressort est deflechi sous l'action des forces attractives (essentiellement de Van der Waals), la pointe et la surface sont des lors en contact. La reduction de la. distance se poursuit et la deflexion du ressort s'inverse ; la force devient alors lineaire avec le deplacement. Lorsqu'on eloigne la surface de la pointe (de gauche a droite), la force diminue avec la distance. Le ressort est deflechi, le contact etant maintenu par les forces adhesives entre pointe et substrat. Lorsque la distance devient trop importante, la pointe se detache (" pull-off ") et le systeme retrouve sa position initiale.

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来源
《Revue de Metallurgie: Cahiers d'Informations Techniques》 |2003年第5期|541-549|共9页
作者
C. Devaux; J.P. Chapel;
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作者单位

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收录信息美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);
原文格式 PDF
正文语种法语
中图分类冶金工业;
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