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液晶表示素子の表示むらとセルギャップ偏差に関する研究

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摘要

LCDの筋状の表示むらとそれに用いられる基板の平坦性に起因するセルギャップ偏差に関する本研究により,以下の緒論を得た。 (1)筋状の表示むらの明暗と,基板の表面形状の測定結果より求めたセルギャップ偏差の測定結果を比較し,両者の強い相関(r~2=0.77)を確認した.(2)筋状の表示むらに関して,人の評価は輝度の射影億のgrad値と高い相関(r~2=0.81)を持つことを確認した。 (3)以上より,基板の表面形状のgrad借を求めることにより,セル化後のLCDの表示むらに対する人の感覚に合った評価が可能である。(2)に関して,現時点ではセルギャップ制御工程の特定,基板表面形状の特性の仮定を前提とすれば平坦性の許容限度を求めることが可能である。 むらに影響を与えるセル化条件のパラメータの特定など,各工程に関する研究が進めば,基板の平坦性の評価指標や許容限度もより明確になる.それらの分野での今後の研究成果が待たれる.また,数十mmの範囲における数nmオーダの平坦性の測定も現状では測定限界に近く,実験精度の更なる向上のためにほこの分野での技術の進展も必要である.

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