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{1101} twin dislocation structures in evaporated titanium thin films

机译：蒸发钛薄膜中的{1101}双位错结构

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High-resolution transmission electron micrographs of (1101} interfacial twin dislocations in Ti thin films, previously published in this journal, are re-examined. Computer simulations of the experimental images have been obtained using atomic models deduced by Pond, Bacon and Sena in 1995. Two twin dislocations were analysed, with step heights of 4d(K,) and 2d(Ki), where d(Ki) is the spacing of the [ 1101) planes. Reasonable agreement with the predicted structures is obtained at about 0-17 nm resolution.
机译：再次检查了以前在该期刊上发表的（1101}界面孪晶位错在钛薄膜中的高分辨率透射电子显微照片，使用庞德，培根和塞纳在1995年推导的原子模型获得了实验图像的计算机模拟。 。分析了两个孪晶位错，台阶高度分别为4d（Ki）和2d（Ki），其中d（Ki）是[1101）平面的间距。在大约0-17 nm的分辨率下获得了与预测结构的合理一致性。

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