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ARL-MR-0973 - Thermal Simulation of a Silicon Carbide (SiC) Insulated-Gate Bipolar Transistor (IGBT) in Continuous Switching Mode | U.S. Army Research Laboratory

机译:ARL-MR-0973 - 连续开关模式下碳化硅(SiC)绝缘栅双极晶体管(IGBT)的热模拟美国陆军研究实验室

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摘要

Thermal simulations were used to calculate temperatures in a silicon carbide (SiC) Insulated-Gate Bipolar Transistor (IGBT),simulating device operation in a DC-DC power converter switching at a frequency of up to 15 kHz. Calculations alsoestimated the effect of solder layers on temperature in the device.

著录项

  • 作者

    Ovrebo, Gregory;

  • 作者单位
  • 年(卷),期 2018(),
  • 年度 2018
  • 页码
  • 总页数 16
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种
  • 中图分类
  • 网站名称 美国陆军研究实验室
  • 栏目名称 全部文件
  • 关键词

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