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Analisi dei limiti di validità del metodo di Roberts e von Hippel nella determinazione della costante dielettrica di un solido, nel campo delle onde millimetriche

机译:分析Roberts和von Hippel方法在毫米波场中确定固体介电常数的有效性限值

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摘要

Nel presente lavoro viene fatta un'analisi dei limiti di validità nel l'applicazione del metodo sviluppato da Roberts e Von Hippel per la mi sura di costanti dielettriche alla frequenza delle microonde. Viene dapprima mostrato come sia possibile determinare, mediante l'uso della carta di Smith, l'ordine di grandezza dell'errore commesso nella misti ra di k' e tg 6 , e come tale errore dipenda dalla lunghezza del campione e dalla frequenza usata. Viene fatta poi un'esposizione delle formule at te a correggere l'influenza della gap sui risultati sperimentali. Infine, vengono riportate misure eseguite sul plexiglas nell'intervallo di frequen za tra 28 e 40 kMc/s.

著录项

  • 作者

    R LELLI;

  • 作者单位
  • 年度 1967
  • 页码 1-37
  • 总页数 37
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 ita
  • 中图分类 工业技术;
  • 关键词

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