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Die Raster-Elektronenmikroskopie, eine ergänzende Untersuchungsmetho¬de im Institut für Werkstoff-Forschung der DFVLR

机译:Die Raster-Elektronenmikroskopie,eineergänzendeUntersuchungsmetho-de imInstitutfürWerkstoff-Forschung der DFVLR

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摘要

Nach einer kurzen Einführung in die Grundlagen der Raster-Elektronen¬mikroskopie werden die Anwendungsmöglichkeiten des Raster-Elektronen¬mikroskops im Institut für Werkstoff-Forschung der DFVLR bei mikro-fraktographischen Untersuchungen, bei Verbundwerkstoffen, in der Sinter¬metallurgie und bei metallkundlichen Aufgaben diskutiert. Anhand einiger charakteristischer Aufnahmen wird die Aussagefähigkeit der Raster-Elek¬tronenmikroskopie für verschiedene Arbeitsgebiete gezeigt. In vielen Fällen kann durch die Raster-Elektronenmikroskopie als Ergänzung zu anderen Grundlagenverfahren bei gezieltem Einsatz eine optimale Aus¬sage über Oberflächentopographie und Struktur der Werkstoffe getroffen werden.

著录项

  • 作者

    G. Ziegler;

  • 作者单位
  • 年度 1971
  • 页码 1-36
  • 总页数 36
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 ger
  • 中图分类 工业技术;
  • 关键词

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