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机译:用连续膨胀仪分析无源碳化硅温度测定辐照温度的方法
Anne A. Campbell; Wallace D. Porter; Yutai Katoh; Lance L. Snead;
机译:用连续膨胀计分析被动碳化硅测温法以确定辐照温度的方法
机译:连续膨胀碳化硅测温法测定被动辐射温度的评价。
机译:用膨胀计确定居里温度的新方法
机译:分析碳化硅辐射诱导的蠕变
机译:高温碳化硅中的锁相环和碳化硅集成电路的一般设计方法。
机译:基于水平反交叉的碳化硅光学测温法
机译:退火期间的连续电阻测量碳化碳化硅辐射温度的回收 - 第二部分
机译:碳化硅基材料的高温发射率。第1卷:碳化硅基材料的高温正常光谱发射率。第2卷。热处理对碳化硅基材料发射率的影响。专题报道
机译:在碳化硅表面上形成高质量钝化层的方法及具有钝化区域的碳化硅基本材料的器件结构
机译:具有在碳化硅表面上形成高质量钝化形成的方式和钝化场的碳化硅衬底材料的器件结构无效
机译:在其基极区域上具有碳化硅钝化层的碳化硅双极结型晶体管及其制造方法
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