首页> 外文OA文献 >Requirements for tests of effects of gamma radiation on electronics: 28A003A (Rev 0) PMOS power switch (ambient-dynamic) 28A004A (Rev 0) PMOS power switch (LN$sub 2$-dynamic test 28A003B (Rev 0) PMOS NOR gate (ambient-dynamic) test 28A004B(Rev 0) PMOS NOR gate (LN$sub 2$-dynamic)
【2h】

Requirements for tests of effects of gamma radiation on electronics: 28A003A (Rev 0) PMOS power switch (ambient-dynamic) 28A004A (Rev 0) PMOS power switch (LN$sub 2$-dynamic test 28A003B (Rev 0) PMOS NOR gate (ambient-dynamic) test 28A004B(Rev 0) PMOS NOR gate (LN$sub 2$-dynamic)

机译:伽玛辐射效果测试的要求:28A003A(REV 0)PMOS电源开关(环境 - 动态)28A004A(REV 0)PMOS电源开关(LN $ SUB 2 $dynamic Test 28a003b(Rev 0)PMOS NOR GATE(环境动态)测试28A004B(REV 0)PMOS NOR GATE(LN $ SUB 2 $ -dynamic)

代理获取
本网站仅为用户提供外文OA文献查询和代理获取服务,本网站没有原文。下单后我们将采用程序或人工为您竭诚获取高质量的原文,但由于OA文献来源多样且变更频繁,仍可能出现获取不到、文献不完整或与标题不符等情况,如果获取不到我们将提供退款服务。请知悉。

著录项

  • 作者

  • 作者单位
  • 年度 1972
  • 总页数
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种
  • 中图分类
  • 入库时间 2022-08-20 22:00:08

相似文献

  • 外文文献
  • 专利
代理获取

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号