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【2h】

High-precision half-life measurements of the T=1/2 mirror beta decays F-17 and Cl-33

机译：T = 1/2反射镜β衰变F-17和Cl-33的高精度半衰期测量

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Background: Measurements of the ft values for T=1/2 mirror β+ decays offer a method to test the conserved vector current hypothesis and to determine Vud, the up-down matrix element of the Cabibbo-Kobayashi-Maskawa matrix. In most mirror decays used for these tests, uncertainties in the ft values are dominated by the uncertainties in the half-lives.Purpose: Two precision half-life measurements were performed for the T=1/2β+ emitters, 17F and 33Cl, in order to eliminate the half-life as the leading source of uncertainty in their ft values.Method: Half-lives of 17F and 33Cl were determined using β counting of implanted radioactive ion beam samples on a moving tape transport system at the Système de Production d'Ions Radioactifs Accélérés en Ligne low-energy identification station at the Grand Accélérateur National d'Ions Lourds.Results: The 17F half-life result, 64.347 (35) s, precise to ±0.05%, is a factor of 5 times more precise than the previous world average. The half-life of 33Cl was determined to be 2.5038 (22) s. The current precision of ±0.09% is nearly 2 times more precise compared to the previous world average.Conclusions: The precision achieved during the present measurements implies that the half-life no longer dominates the uncertainty of the ft values for both T=1/2 mirror decays 17F and 33Cl.
机译：背景：对T = 1/2反射镜β+衰减的ft值的测量提供了一种方法来检验保守的矢量电流假设并确定Vud，即Cabibbo-Kobayashi-Maskawa矩阵的上下矩阵元素。在这些测试中使用的大多数反射镜衰减中，ft值的不确定性主要由半衰期的不确定性决定。目的：对T = 1 /2β+发射极17F和33Cl进行了两次精密的半衰期测量。方法：通过在生产系统d上通过移动磁带运输系统中注入的放射性离子束样品的β计数来确定17F和33Cl的半衰期，这是确定其ft值不确定性的主要来源。大国家高等离子国家实验室的'Ion RadioactifsAccélérésen Ligne低能鉴定站。结果：17F半衰期结果64.347（35）s，精确度为±0.05％，精确度提高了5倍。比以前的世界平均水平高。 33Cl的半衰期确定为2.5038（22）s。当前的±0.09％精度比以前的世界平均精度高将近2倍。结论：目前的测量结果表明，半衰期不再占T = 1/2的ft值的不确定性。 2个镜面衰减17F和33Cl。

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