机译:阴极发光和截面透射电子显微镜研究Berkovich纳米压痕作用下GaN薄膜的形变行为
机译:阴极发光和截面透射电镜观察的Berkovich压痕诱导GaN薄膜变形行为
机译:GaN薄膜中Berkovich压痕引起的形变微观结构的截面透射电子显微镜观察
机译:Gan薄膜中的Berkovich纳米压痕和变形机理
机译:GaN电子薄膜中位错的光学特性的透射电子显微镜阴极发光法表征
机译:氧化锶铁/二氧化硅/硅和氧化锶铁/氧化铝薄膜系统的热稳定性:透射电子显微镜研究薄膜系统的界面结构和氧化锶铁/氧化铝的电导传感响应。
机译:阴极发光和截面透射电镜研究Berkovich纳米压痕下GaN薄膜的形变行为
机译:阴极发光和截面透射电子显微镜研究Berkovich纳米压痕作用下GaN薄膜的形变行为
机译:离子辅助沉积和物理气相沉积Cr膜的横截面TEm(透射电子显微镜)研究