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【2h】

Temperature study of Al0.52In0.48P detector photon counting X-ray spectrometer

机译：al0.52In0.48p探测器光子计数X射线光谱仪的温度研究

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A prototype 200 μm diameter Al0.52In0.48P p+-i-n+ mesa photodiode (2 μm i-layer) was characterised at temperatures from 100 °C to -20 °C for the development of a temperature tolerant photon counting X-ray spectrometer. At each temperature, X-ray spectra were accumulated with the AlInP detector reverse biased at 0 V, 5 V, 10 V and 15 V and using different shaping times. The detector was illuminated by an 55Fe radioisotope X-ray source. The best energy resolution, as quantified by the full width at half maximum (FWHM) at 5.9 keV, was observed at 15 V for all the temperatures studied; at 100 °C a FWHM of 1.57 keV was achieved, this value improved to 770 eV FWHM at -20 °C. System noise analysis was also carried out and the different noise contributions were computed as functions of temperature. The results are the first demonstration of AlInP’s suitability for photon counting X-ray spectroscopy at temperatures other than ≈ 20 °C.
机译：直径200μm的原型Al0.52In0.48P p + -i-n +台面光电二极管（2μmi层）的特征是在100°C至-20°C的温度下开发耐温光子计数X射线光谱仪。在每个温度下，使用AlInP检测器以0 V，5 V，10 V和15 V反向偏置并使用不同的整形时间累积X射线光谱。该检测器由55Fe放射性同位素X射线源照射。在所有研究温度下，在15 V下观察到最佳能量分辨率，该能量分辨率由5.9 keV处的半峰全宽（FWHM）量化。在100°C下，FWHM为1.57 keV，在-20°C下，该值提高到770 eV FWHM。还进行了系统噪声分析，并计算了不同的噪声贡献作为温度的函数。结果是AlInP在≈20°C以外的温度下适用于光子计数X射线光谱学的首次证明。

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