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基于散射效应的成像光谱仪及高空间分辨率光谱成像方法

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摘要

本发明公开了一种基于散射效应的成像光谱仪及高空间分辨率光谱成像方法；成像光谱仪包括前置器件、散射器件、准直器件、阵列式探测芯片、控制器件、数据计算与分析系统；本发明所公开的成像光谱仪通过控制器件控制散射器件，不同控制条件下同一个像素元所探测到的光强度互不相同，代入到矩阵方程计算光谱，可通过控制器件输出更多的控制参数，实现更高的光谱分辨率；由于阵列式探测芯片上的像素元数量较多，通过对待测目标进行区域划分，每个像素元都可以用来作为单独的探测器对待测成像区域的不同子单元区域进行光谱测量，因此光谱成像的空间分辨率较高。与传统成像光谱仪相比，本发明所公开的成像光谱仪体积较小，成本较低，性能较高。

著录项

  • 公开/公告号CN109708757A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-05-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 南京邮电大学;

    申请/专利号CN201811509864.0

  • 发明设计人 杨涛;黄维;彭靖骁;何浩培;

    申请日2018-12-11

  • 分类号G01J3/28(20060101);G01J3/44(20060101);G01J3/02(20060101);

  • 代理机构32224 南京纵横知识产权代理有限公司;

  • 代理人母秋松;董建林

  • 地址 210023 江苏省南京市文苑路9号

  • 入库时间 2024-02-19 09:26:47

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-05-28

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01J3/28 申请日:20181211

    实质审查的生效

  • 2019-05-03

    公开

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