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一种基于拉普拉斯特征映射学习的显卡接口机器测试方法

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本发明公开了一种基于拉普拉斯特征映射学习的显卡接口机器测试方法，按照如下步骤进行：步骤1：用相应类型线材将待测产品连接到视频采集器；步骤2：播放测试视频，视频采集器收集显示接口输出信息，并上传至工业上位机；步骤3：工业上位机对显卡接口信息进行解码，并保存帧图像；步骤4：对所述帧图像的行和列分别进行拉普拉斯特征映射降维预处理；步骤5：将上述分析后的图像作为机器学习分类器的输入，从而得到检测结果。本发明能够兼容各种类型的接口，无需配备对应接口的显示器，利用视频采集器和工业上位机完成接口信息的采集与解码，降低了物力成本。

著录项

公开/公告号CN111507393A

专利类型发明专利
公开/公告日2020-08-07

原文格式PDF
申请/专利权人艾瑞思检测技术(苏州)有限公司;
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申请/专利号CN202010290292.2
发明设计人陈博;
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申请日2020-04-14
分类号G06K9/62(20060101);G06N3/04(20060101);G06N3/08(20060101);G06N20/00(20190101);
代理机构32231 常州佰业腾飞专利代理事务所(普通合伙);
代理人滕诣迪
地址 215513 江苏省苏州市常熟市常熟经济技术开发区研究院路1-2号
入库时间 2023-12-17 11:41:09

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2020-08-07

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