• 主题
高级搜索  >
历史搜索 清空历史
首页> 中国专利> 射线检验设备和射线检验方法

射线检验设备和射线检验方法

页面导航
  • 摘要
  • 著录项
  • 法律信息
  • 相似文献

摘要

一种射线检验设备计算从射线探测器(3)输出的每一个像素的像素数据和其周围的每一个像素的像素数据之间的差。然后,该设备通过总计从相应于每一个像素的差值处理获得的灰度等级数据在灰度等级轮廓的预定灰度等级范围从XL到XH内的像素的数量、获得被检对象WA的总周边长度。由此,该设备根据该对象的总周边长度的值确定在该对象中是否出现裂缝或裂口。

著录项

  • 公开/公告号CN1381717A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2002-11-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 株式会社岛津制作所;

    申请/专利号CN02105676.5

  • 发明设计人 泽田良一;

    申请日2002-04-17

  • 分类号G01N23/02;

  • 代理机构11105 北京市柳沈律师事务所;

  • 代理人黄小临;王志森

  • 地址 日本京都市

  • 入库时间 2023-12-17 14:32:02

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2010-08-04

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N23/02 授权公告日:20050119 申请日:20020417

    专利权的终止

  • 2005-01-19

    授权

    授权

  • 2003-02-19

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2002-11-27

    公开

    公开

  • 2002-07-17

    实质审查的生效

    实质审查的生效

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱：kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备：11010802029741号 ICP备案号：京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有

  • 客服微信

  • 服务号