ATE测试结果判断方法及ATE测试方法

技术领域

本发明涉及集成电路测试领域，更具体地说，本发明涉及一种基于读 取信号输出状态的ATE测试结果判断方法，此外，本发明还涉及一种ATE 测试方法。

背景技术

随着集成电路复杂性的不断增加，对在ATE（automatic test equipment， 自动测试设备）上的输出结果判断提出了很高的要求，现提出一种新型的 基于读取信号输出状态的ATE测试结果判断方法，实现对集成电路一些复 杂和特殊的输出状态进行判断的功能，解决很多电路功能无法在ATE上测 试分类的问题。

传统上，ATE测试结果都是由ATE测试设备通道内的比较器对被测器 件的输出和预期输出进行比较，得到测试通过（PASS）或测试失败（FAIL） 的结果。

但是，随着集成电路的发展，电路的输出也越来越复杂，导致目前的 ATE比较测试的方法无法满足其测试要求。以下面两种情况为例，一是集 成电路内部集成了多个时钟域和各种协议，功能测试时信号无法在固定时 间固定节拍输出固定状态。二是集成的内部模块也越来越多，这些模块如 果采用串行测试的方法，测试时间较长，会降低测试效率，而采用并行测 试的方法，只能对测试结果直接比较PASS或FAIL，无法根据各模块的测 试结果进行分类。

因此，希望能够提供一种能够实现对一些集成电路复杂和特殊的输出 状态进行判断，从而实现复杂芯片的测试功能的ATE测试结果判断方法。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是针对现有技术中存在上述缺陷，提供一 种能够实现对一些集成电路复杂和特殊的输出状态进行判断，从而实现复 杂芯片的测试功能的基于读取信号状态的ATE测试结果判断方法。

根据本发明的第一方面，提供了一种基于读取信号输出状态的ATE测 试结果判断方法，其包括：第一步骤：启动测试；第二步骤：执行特定信 号预期输出修改；第三步骤：执行测试输出信号的波形与预期波形的比较； 第四步骤：记录特定信号的失效节拍；第五步骤：对记录的失效测试数据 进行处理；第六步骤：获取特定信号预期码流；第七步骤：将特定信号的 码流信息与预期码流进行比较；第八步骤：将其它的输出信号的输出波形 与预期波形进行比较。

优选地，所述基于读取信号输出状态的ATE测试结果判断方法还包括 第九步骤：根据特定信号输出码流与预期码流的比较结果、以及其它信号 输出波形与预期波形的比较结果，得到详细的测试分类信息输出。

优选地，在第二步骤中，对不固定节拍输出的信号的预期输出进行修 改，修改为全0或全1。

优选地，在第二步骤中，仅仅修改特定段时间内的预期输出。

优选地，在第四步骤中，将特定信号输出波形与预期波形不一致的节 拍进行记录。

优选地，在第五步骤中，对所述第四步骤记录到的失效节拍进行处理， 将失效节拍组合成输出码流，并将输出码流与正确的预期码流进行比对。

优选地，在第六步骤中，从预期波形中处理得到的特定信号的预期码 流，所述预期码流与固定的节拍无关。

优选地，在第七步骤中，将包含无法固定时间输出的特定信号进行数 据处理以得到特定信号的码流信息，将特定信号的码流信息与预期码流信 息比较，得到详细的测试结果。

优选地，在第八步骤中，将其它的输出信号通过ATE的比较器直接对 输出波形与预期波形比对，以得到测试通过或测试失败的测试结果。

根据本发明的第二方面，提供了一种ATE测试方法，其采用了根据本 发明的第一方面所述的基于读取信号输出状态的ATE测试结果判断方法。

根据本发明，当有些集成电路的输出无法采用直接的ATE测试比较 时，把输出状态转换处理成具体输出时间无关的码流信息，然后对码流信 息进行比较判断，得到详细的准确的测试结果。这样，就可以解决目前很 多集成电路输出位置不固定、输出状态组合多难以判断的问题，同时对于 提高复杂的集成电路的测试良率、测试效率都有很好的作用。而且，本发 明实施例公开的基于读取信号输出状态的ATE测试结果判断方法可以解 决现有测试程序开发时间过长影响测试进度的问题。

附图说明

结合附图，并通过参考下面的详细描述，将会更容易地对本发明有更 完整的理解并且更容易地理解其伴随的优点和特征，其中：

图1示意性地示出了根据本发明实施例的基于读取信号输出状态的 ATE测试结果判断方法的流程图。

需要说明的是，附图用于说明本发明，而非限制本发明。注意，表示 结构的附图可能并非按比例绘制。并且，附图中，相同或者类似的元件标 有相同或者类似的标号。

具体实施方式

为了使本发明的内容更加清楚和易懂，下面结合具体实施例和附图对 本发明的内容进行详细描述。

图1示意性地示出了根据本发明实施例的基于读取信号输出状态的 ATE测试结果判断方法的流程图。

如图1所示，根据本发明实施例的基于读取信号输出状态的ATE测试 结果判断方法包括：

第一步骤S1：启动测试；

第二步骤S2：执行特定信号预期输出修改。具体地，可对一些复杂和 不固定节拍输出的信号的预期输出进行修改，例如修改为全0或全1，并 且，优选地可以修改一段时间内的预期输出，也可以修改整个时间段内的 预期输出。修改特定信号预期输出的目的是为了方便与实际输出波形比较 后的码流组合处理。

第三步骤S3：执行测试输出信号的波形与预期波形的比较。具体地， ATE测试设备内的比较器可对输出信号的波形与预期波形进行比较判断。

第四步骤S4：记录特定信号的失效节拍。具体地，可将ATE比较后 特定信号输出波形与预期波形不一致的节拍（失效节拍）进行记录。

第五步骤S5：对记录的失效测试数据进行处理。具体地，可对第四步 骤S4记录到的失效节拍进行处理，将失效节拍组合成输出码流，并将输 出码流与正确的预期码流进行比对；这样，一方面可以避开输出时间不固 定的问题，另一方面可以根据码流得到放映详细测试结果的码流数据。

第六步骤S6：获取特定信号预期码流。具体地，可从预期波形中处理 得到的特定信号的预期码流，所述预期码流与固定的节拍无关。

第七步骤S7：将特定信号的码流信息与预期码流进行比较。具体地， 例如，可将包含复杂输出信息或无法固定时间输出的特定信号进行数据处 理以得到特定信号的码流信息，由此可将特定信号的码流信息与预期码流 信息比较，得到详细的测试结果。

这样，就可以将ATE设备无法直接正确比较的输出波形处理转换为与 具体输出时间无关的码流信息，与预期码流信息进行比较。

第八步骤S8：将其它的输出信号的输出波形与预期波形进行比较。具 体地，可将其它的输出信号通过ATE的比较器直接对输出波形与预期波形 比对，得到测试通过（PASS）或测试失败（FAIL）的测试结果。

第九步骤9：进行测试分类，并输出测试结果。具体地，可根据特定 信号输出码流与预期码流的比较结果、以及其它信号输出波形与预期波形 的比较结果，得到详细的测试分类信息输出。

在本发明实施例公开的基于读取信号输出状态的ATE测试结果判断 方法中，当有些集成电路的输出无法采用直接的ATE测试比较时，把输出 状态转换处理成具体输出时间无关的码流信息，然后对码流信息进行比较 判断，得到详细的准确的测试结果。这样，就可以解决目前很多集成电路 输出位置不固定、输出状态组合多难以判断的问题，同时对于提高复杂的 集成电路的测试良率、测试效率都有很好的作用。而且，本发明实施例公 开的基于读取信号输出状态的ATE测试结果判断方法可以解决现有测试 程序开发时间过长影响测试进度的问题。

根据本发明的另一优选实施例，本发明还提供了提供了一种ATE测试 方法，其采用了上述基于读取信号输出状态的ATE测试结果判断方法。

此外，需要说明的是，说明书中的术语“第一”、“第二”、“第三”等 描述仅仅用于区分说明书中的各个组件、元素、步骤等，而不是用于表示 各个组件、元素、步骤之间的逻辑关系或者顺序关系等。

可以理解的是，虽然本发明已以较佳实施例披露如上，然而上述实施 例并非用以限定本发明。对于任何熟悉本领域的技术人员而言，在不脱离 本发明技术方案范围情况下，都可利用上述揭示的技术内容对本发明技术 方案作出许多可能的变动和修饰，或修改为等同变化的等效实施例。因此， 凡是未脱离本发明技术方案的内容，依据本发明的技术实质对以上实施例 所做的任何简单修改、等同变化及修饰，均仍属于本发明技术方案保护的 范围内。