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公开/公告号CN105928902A
专利类型发明专利
公开/公告日2016-09-07
原文格式PDF
申请/专利权人 中国科学院合肥物质科学研究院;
申请/专利号CN201610417742.3
发明设计人 曹振松;谈图;吴庆川;马宏亮;黄印博;刘强;黄宏华;朱文越;高晓明;饶瑞中;
申请日2016-06-08
分类号
代理机构安徽合肥华信知识产权代理有限公司;
代理人余成俊
地址 230031 安徽省合肥市蜀山湖路350号
入库时间 2023-06-19 00:28:54
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2016-10-05
实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/39 申请日:20160608
实质审查的生效
2016-09-07
公开
机译: 高光谱法布里-珀罗滤光片的制造方法,包括在去除抗蚀剂掩模并通过化学机械抛光对氧化硅层的表面进行整平和变薄之后,在间隙中填充氧化硅层。
机译: 整光量测量系统,整光量测量装置及整光量测量方法
机译: 包含烯丙醇的金属种子层整平剂以及使用该金属种子层整平剂构造金属种子层的方法
机译:用多模激光和扫描马赫德干涉仪的高光谱分辨率激光雷达的测量方法
机译:对2006年3月非洲沙尘暴的调查,使用了基于地面的色谱柱结合的高光谱分辨率红外(8-13μm)和可见气溶胶光学厚度测量方法:2。矿物气溶胶混合物分析
机译:通过结合GPS无线电职业折射率和高光谱分辨率红外辐射测量信息得出对流层上方对流层的大气温度
机译:一种改进的海洋沉积物研究的高光谱分辨率水填充阻抗管测量方法
机译:对流层气溶胶在热红外中的高光谱分辨率特征和辐射强迫的研究。
机译:亚纳米级分辨率的差分霍尔效应测量方法用于超薄掺杂Si1-的有源掺杂物浓度分布xGex和Si层
机译:超薄掺杂Si1-Xgex和Si层中具有亚纳米分辨率的差分霍尔效应测量方法。
机译:marineLight混合层场地的平均余弦仪和高光谱分辨率测量