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碳同位素分析设备以及碳同位素分析方法

摘要

提供了:一种碳同位素分析设备,在该碳同位素分析设备中被送入光学谐振器的气体中的二氧化碳同位素的分压高,并且该碳同位素分析设备允许高灵敏度性能和高准确度分析;以及一种使用该分析设备的分析方法。碳同位素分析设备包括:二氧化碳同位素生成设备,设置有从碳同位素生成包含二氧化碳同位素的气体的燃烧单元以及二氧化碳同位素提纯单元;光谱设备,设置有具有一对镜的光学谐振器以及检测来自光学谐振器的传输光的强度的光检测器;二氧化碳同位素捕集器,设置在二氧化碳同位素生成设备与光谱设备之间,并且二氧化碳同位素捕集器设置有用于使二氧化碳同位素冷凝的冷却设备;以及光发射设备。

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法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-10-27

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01N21/3504 专利申请号:2019800093990 申请公布日:20200904

    发明专利申请公布后的视为撤回

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