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采用有限数量的测试引脚测试存储器件的方法以及利用该方法的存储器件

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摘要

一种方法用于测试包括封装衬底、控制器裸片和存储器裸片的存储器件。封装衬底包括隔离引脚、测试模式选择引脚、测试时钟引脚和测试数据引脚。所述方法包括：将隔离引脚设置为使存储器裸片与控制器裸片隔离的隔离状态；以及在隔离引脚被设置为隔离状态时，将存储器裸片设置为经由测试模式选择引脚、测试时钟引脚和测试数据引脚接收控制。

著录项

公开/公告号CN112466388A

专利类型发明专利
公开/公告日2021-03-09

原文格式PDF
申请/专利权人长江存储科技有限责任公司;
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申请/专利号CN202011456574.1
发明设计人徐晓东;赵祥明;刘顺临;陈轶;
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申请日2019-10-17
分类号G11C29/56(20060101);
代理机构11376 北京永新同创知识产权代理有限公司;
代理人林锦辉;刘景峰
地址 430074 湖北省武汉市东湖新技术开发区未来三路88号
入库时间 2023-06-19 10:08:35

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2023-10-27

发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G11C29/56 专利申请号:2020114565741 申请公布日:20210309

发明专利申请公布后的驳回

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外文文献

1. 采用有限数量的测试引脚测试存储器件的方法以及利用该方法的存储器件 [P] . 中国专利： CN110892483B . 2021.01.29
2. 采用有限数量的测试引脚测试存储器件的方法以及利用该方法的存储器件 [P] . 中国专利： CN110892483A . 2020-03-17
3. METHOD OF TESTING MEMORY DEVICE EMPLOYING LIMITED NUMBER OF TEST PINS AND MEMORY DEVICE UTILIZING SAME [P] . US2021116500A1 . 2021-04-22

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