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一种间接法测量半透明材料发射率的测量装置及方法

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本发明公开了一种间接法测量半透明材料发射率的测量装置，包括光源，光源右侧设有第一平面反射镜，第一平面反射镜下方设有第一分束立方体，第一分束立方体的左侧设有第一半抛物面镜，第一分束立方体的右侧设有第二平面反射镜；第一半抛物面镜的下方设有样品，样品的下方设有第二半抛物面镜，第二半抛物面镜的右侧设有第二分束立方体，第二分束立方体的右侧设有第三分束立方体，第三分束立方体的下方设有会聚透镜，会聚透镜的焦点上设有探测器。本发明采用间接法测量透明或者半透明材料的发射率，同时将光源一维移动和平面反射镜一维移动相结合，能够实现入射天顶角和方位角独立变化，从而实现透明或者半透明材料方向发射率的测量。

著录项

公开/公告号CN114354548A

专利类型发明专利
公开/公告日2022-04-15

原文格式PDF
申请/专利权人河南师范大学;中国计量科学研究院;
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申请/专利号CN202111464536.5
发明设计人刘玉芳;刘子龙;刘彦磊;于坤;张凯华;李龙飞;
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申请日2021-12-03
分类号G01N21/59;G01N21/55;
代理机构新乡市平原智汇知识产权代理事务所(普通合伙);
代理人吴超
地址 453000 河南省新乡市牧野区建设路46号
入库时间 2023-06-19 14:57:41

法律信息

法律状态公告日

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法律状态
2022-04-15

公开

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