首页> 中国专利> 变系数的强反射分离方法、装置、电子设备及介质

变系数的强反射分离方法、装置、电子设备及介质

摘要

本申请公开了一种变系数的强反射分离方法、装置、电子设备及介质。该方法可以包括:确定面元大小,计算面元内的平均最优子波;分别指定上、下漂移时窗,沿层提取均方根振幅属性;针对均方根振幅属性进行归一化处理,计算每一个地震道的分离系数;根据原始地震信号、每一个地震道的分离系数与平均最优子波,计算分离后的地震数据。本发明根据强背景反射在局部小范围内的相对稳定特征和沿层均方根振幅在横向上的能量差异,在不同的地震道上采用不同的分离系数,有效检测隐藏在地震同相轴中的能量异常,达到突出隐蔽储层的目的,为优质储层评价和流体识别奠定了数据基础。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-05-20

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01V 1/30 专利申请号:202011071415X 申请日:20201009

    实质审查的生效

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号