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用于膜式壁低纹理结构点线特征提取的SLAM改进算法

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本发明公开用于膜式壁低纹理结构点线特征提取的SLAM改进算法，包括以下步骤：S1分割图像，根据图像信息熵将空间中低纹理结构化场景中的图像信息区分为高熵区域和低熵区域；S2对高熵区域使用严格的点特征进行特征提取；S3对低熵区域的图像中的线特征进行特征提取，并设定线几何约束规则对线特征进行筛选；S4图像融合：将高熵区域的点特征和低熵区域的线特征一起加入位姿优化。本发明算法特别适用于以火电厂锅炉水冷壁为代表的一类膜式壁环境，这类场景普遍具有低纹理结构化特征；相较标准PL‑SLAM算法，在该场景下本发明平均可减少30％多的数据处理量，定位速度提高20％。

著录项

公开/公告号CN114494437A

专利类型发明专利
公开/公告日2022-05-13

原文格式PDF
申请/专利权人浙江工业大学;
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申请/专利号CN202210090225.5
发明设计人胥芳;吴周鑫;占红武;
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申请日2022-01-25
分类号G06T7/73;G06V20/10;G06V10/80;G06V10/771;G06K9/62;
代理机构
代理人
地址 310014 浙江省杭州市西湖区留下镇留和路288号
入库时间 2023-06-19 15:16:37

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2022-05-31

实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 7/73 专利申请号:2022100902255 申请日:20220125

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