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一种基于高光谱成像技术的光谱特性测量装置

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摘要

本发明公开了一种基于高光谱成像技术的光谱特性测量装置，包括底座，所述底座上通过移动机构安装有安装块，且安装块上通过转动机构安装有安装杆，所述安装块上通过滑动机构安装有光谱仪本体，所述光谱仪本体的左右两侧均固定安装有支撑杆，且两个支撑杆上均开设有摆动槽。优点在于：可在光谱仪本体的高度发生变化时，使得两个卤素灯的偏转角度随其同时发生相应的变化，从而可确保两个卤素灯对待测量物的补光效果，避免测量结果出现偏差的问题，且可根据实际需要对光谱仪本体相对待测量物的角度进行调节，使其从不同角度对待测量物进行测量，有效提高了测量结果的全面性，且调节方式也较为简便，易于操作。

著录项

  • 公开/公告号CN114485940A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-05-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 南昌工程学院;

    申请/专利号CN202210133792.4

  • 发明设计人 汪胜前;刘祖涵;张绍泉;李璠;王莉莉;

    申请日2022-02-14

  • 分类号G01J3/28;G01J3/02;G01J3/10;G01N21/25;G01N21/01;F16M11/04;F16M11/18;

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 330099 江西省南昌市高新技术开发区天祥大道289号

  • 入库时间 2023-06-19 15:18:12

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-05-31

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01J 3/28 专利申请号:2022101337924 申请日:20220214

    实质审查的生效

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