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基于高斯过程回归的试验样本点选取方法

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摘要

本发明提供了一种基于高斯过程回归的试验样本点选取方法，包括：在仿真数据进行性态分析的过程中，确定高斯过程回归模型的核函数；确定误差响应函数；获取实际工程问题中性能测试的历史数据，生成训练数据集；导入训练数据集，运用高斯过程回归模型，确定核函数的初始化超参数；进行初始化试验构建；运用高斯过程回归模型进行采样的迭代优化，选取最优采样点集合；迭代优化结束后，输出选取的最优采样点集合。本发明解决了现有技术中试验样本点选取效率低的问题。

著录项

  • 公开/公告号CN114510812A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-05-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 深圳光启尖端技术有限责任公司;

    申请/专利号CN202011290863.9

  • 发明设计人 刘若鹏;赵治亚;周鑫;何洋;

    申请日2020-11-17

  • 分类号G06F30/20;G06F17/18;G06F17/15;G06F111/10;

  • 代理机构北京康信知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人谭玲玲

  • 地址 518057 广东省深圳市南山区高新区中区高新中一道9号软件大厦四楼

  • 入库时间 2023-06-19 15:22:57

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-05-17

    公开

    发明专利申请公布

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