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基于光子芯片病毒变异概率的预测方法

摘要

本发明提供一种基于光子芯片病毒变异概率的预测方法,属于光芯片技术领域。因为在本发明所涉及的基于光子芯片病毒变异概率的预测方法中,通过在光子芯片上建立多个预测层和通过层,并赋予每个预测层中的任一分割节点发生变异的概率值,使得光束在具有一个分割节点的预测层射入,并在与最末端的预测层相耦合的连接层输出一系列通过节点,通过分析该一系列通过节点透射出来的光束的强度,进而可以同时输出病毒中变异位点发生变异的所有可能性。所以,本发明提供的方法无需进行大量的模型训练过程,并且可以同时输出病毒发生变异位点的所有可能性,大大提高了病毒变异位点的预测速率。

著录项

  • 公开/公告号CN114550816A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-05-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海图灵智算量子科技有限公司;

    申请/专利号CN202210194876.9

  • 发明设计人 彭于权;

    申请日2022-03-01

  • 分类号G16B20/20;G16B40/00;

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 201203 上海市浦东新区芳春路400号1幢3层

  • 入库时间 2023-06-19 15:27:37

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-05-27

    公开

    发明专利申请公布

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