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一种用于SERF原子测量技术的法拉第闭环检测装置及检测方法

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本发明涉及一种用于SERF原子测量技术的法拉第闭环检测装置及检测方法，特点为：探测激光器输出光通过起偏器线偏振化后，进入由法拉第闭环检测控制电路驱动法拉第调制器，使探测光的线偏振面发生周期性旋转调制；探测激光入射原子气室后携带自旋信息，偏振面转动θ，再经过偏振面转角补偿器及检偏器注入光电探测器，将光信号转化为电信号传输到信号解调模块；法拉第闭环检测控制电路的PID控制模块计算并输出控制信号，调整偏振面转角补偿器的1/2波片双折射主轴方向，使线偏光偏振面转动角度α，实现闭环检测。本发明抑制了检测标度因数误差，提高了检测精度。

著录项

公开/公告号CN114545302A

专利类型发明专利
公开/公告日2022-05-27

原文格式PDF
申请/专利权人中国船舶重工集团公司第七0七研究所;
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申请/专利号CN202210146905.4
发明设计人董丽红;高洪宇;张俊峰;王建龙;刘晓妍;
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申请日2022-02-17
分类号G01R33/032;G01C19/58;
代理机构天津盛理知识产权代理有限公司;
代理人刘英梅
地址 300131 天津市红桥区丁字沽一号路268号
入库时间 2023-06-19 15:27:37

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2022-05-27

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