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一种用于毒死蜱检测的印迹薄膜修饰电极的制备

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一种用于毒死蜱检测的印迹薄膜修饰电极的制备，包括以TEOS为交联剂，壳聚糖或APTS为功能单体，毒死蜱为模板分子水解缩合形成溶胶凝胶，在石墨电极表面形成薄膜。其制备过程分为四步：（1）未修饰聚合物薄膜石墨电极的制备；（2）印迹毒死蜱分子的SiO2‑壳聚糖溶胶的制备；（3）毒死蜱分子的SiO2‑壳聚糖凝胶薄膜修饰电极的制备；（4）印迹类目标分子的洗脱。制备的薄膜修饰电极在保留了石墨电极电化学性能同时，循环伏安曲线中氧化峰的峰电流信号增大，此发明的制备过程简单，价格低廉，将分子印迹的特异性识别与传感器的电化学信号的高灵敏性相结合，弥补了电化学难以进行特异性识别和分子印迹特异性识别表现不明显的缺陷。

著录项

公开/公告号CN114594148A

专利类型发明专利
公开/公告日2022-06-07

原文格式PDF
申请/专利权人合肥学院;
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申请/专利号CN202210201286.4
发明设计人高大明;张年玺;杨俊宇;程远;王竞;姚李;张霞;张慧;张凌云;王晓晨;刘安求;
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申请日2022-03-03
分类号G01N27/327;G01N27/48;C09D105/08;C09D7/61;
代理机构
代理人
地址 230601 安徽省合肥市经济开发区锦绣大道99号
入库时间 2023-06-19 15:35:18

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2022-06-07

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