一种Power板测试装置

技术领域

本申请涉及板卡测试领域，特别是涉及一种Power板测试装置。

背景技术

Power板是计算机主板上控制计算机开关的一个元件，生产过程中，需对Power板进行检测，保证Power板上三个发光二极管（Light Emitting Diode，LED）正常亮灭，两个开关正常有效；Power板的接口之间不能短路、且连接到Power板的连接器上焊接的排线能正常导通，保证Power板功能正常，现有的，通常通过搭建一台PC工装，把对应Power板连接到对应个人电脑（Personal Computer，PC）主板上，开机进行测试。

由于在PC工装上进行Power板测试，需进行开机动作，等待计算机进入操作系统（Operating System，OS）页面，以得到Power板测试，这一过程需要通过通信信号进行通信，显示测试结果，由于通信信号传播速度较慢，测试效率低。

由此可见，如何提高Power板的测试效率，是本领域人员亟待解决的技术问题。

发明内容

本申请的目的是提供一种Power板测试装置。

为解决上述技术问题，本申请提供一种Power板测试装置，包括：

MCU控制电路，报警电路，检测电路，所述MCU控制电路包括MCU；

所述MCU控制电路与待测Power板连接，用于向所述待测Power板发送第一电信号以对所述待测Power板进行检测；

所述报警电路包括报警器，所述MCU控制电路与所述报警电路连接，用于向所述报警电路发送第二电信号以控制所述报警器指示检测结果；

所述检测电路与所述MCU控制电路和所述待测Power板连接，所述检测电路包括：第一三极管，第二三极管，第一电阻，第二电阻，第一继电器，第二继电器；

所述第一三极管基极与所述MCU第六接口连接，所述第一三极管集电极与所述第一电阻一端连接，所述第一电阻另一端接电源，所述第一三极管发射极与所述第一继电器第五接口连接，所述第一继电器第一接口接电源，所述第一继电器第二接口接地，所述第一继电器第四接口与所述待测Power板第二接口连接，所述第一继电器第六接口与所述MCU第十一接口连接；

所述第二三极管基极与所述MCU第七接口连接，所述第二三极管集电极与所述第二电阻一端连接，所述第二电阻另一端接电源，所述第二三极管发射极与所述第二继电器第五接口连接，所述第二继电器第一接口接电源，所述第二继电器第二接口接地，所述第二继电器第四接口与所述待测Power板第七接口连接，所述第二继电器第六接口与所述MCU第十五接口连接。

优选地，所述Power板测试装置中，所述报警电路包括：第三电阻，第四电阻，第一指示电路，第二指示电路，第三三极管；

所述第三电阻第一端与所述MCU的第五接口连接，所述第三电阻第二端与所述第三三极管基极连接，所述第三三极管集电极与所述第四电阻第一端连接，所述第四电阻第二端与所述第一指示电路和所述第二指示电路连接；

所述第一指示电路用于指示所述待测Power板检测结果合格，所述第二指示电路用于指示所述待测Power板检测结果不合格。

优选地，所述Power板测试装置中，所述第一指示电路包括：第五电阻，第一发光二极管；

所述第四电阻第二端与所述第五电阻第一端连接，所述第五电阻第二端与所述第一发光二极管正极连接，所述第一发光二极管负极与所述MCU第三接口连接。

优选地，所述Power板测试装置中，所述第二指示电路包括：第六电阻，第二发光二极管；

所述第四电阻第二端与所述第六电阻第一端连接，所述第六电阻第二端与所述第二发光二极管正极连接，所述第二发光二极管负极与所述MCU第四接口连接。

优选地，所述Power板测试装置中，所述报警电路还包括：蜂鸣器；

所述第三三极管发射极与所述蜂鸣器第一端连接，所述蜂鸣器第二端接地。

优选地，所述Power板测试装置中，还包括：连接器，所述连接器与所述MCU控制电路和所述待测Power板连接，所述连接器与所述MCU一一对应连接，所述连接器与所述待测Power板一一对应连接。

优选地，所述Power板测试装置中，还包括：控制电路，所述控制电路包括：第一开关，第二开关；

所述第一开关一端与所述MCU第一接口连接，所述第一开关另一端接地；所述MCU用于当所述第一开关闭合时，所述MCU第一接口接收到低电平信号，向所述MCU第六接口和所述MCU第七接口赋值高电平；

所述第二开关一端与所述MCU第二接口连接，所述第二开关另一端接地；所述MCU用于当所述第二开关闭合时，所述MCU第二接口接收到低电平信号，向所述MCU第六接口和所述MCU第七接口赋值低电平。

本申请所提供的Power板测试装置，包括微控制单元（Microcontroller Unit，MCU）控制电路，报警电路，报警电路包括报警器，MCU控制电路与待测Power板连接，用于向待测Power板发送第一电信号以对待测Power板进行检测；MCU控制电路与报警电路连接，用于向报警电路发送第二电信号以控制报警器指示检测结果，检测电路与MCU控制电路和待测Power板连接，检测待测Power板的接口之间是否短路，及三个发光二极管是否正常工作。通过本申请提供的装置，通过MCU控制电路发送电信号实现检测待测Power板与显示测试结果，避免了在PC工装上进行Power板测试，需进行开机动作，等待计算机进入OS页面，显示测试结果较慢的问题。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例，下面将对实施例中所需要使用的附图做简单的介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本申请实施例提供的一种Power板测试装置示意图；

图2为本申请实施例提供的一种MCU控制电路的示意图；

图3为本申请实施例提供的一种待测Power板的电路示意图；

图4为本申请实施例提供的一种待测Power板的连接器示意图；

图5为本申请实施例提供的一种检测电路的示意图；

图6为本申请实施例提供的一种报警电路的示意图；

图7为本申请实施例提供的一种连接器的示意图；

图8为本申请实施例提供的一种控制电路的示意图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下，所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护范围。

本申请的核心是提供一种提高Power板的测试效率的Power板测试装置。

为了使本技术领域的人员更好地理解本申请方案，下面结合附图和具体实施方式对本申请作进一步的详细说明。

图1为本申请实施例提供一种Power板测试装置示意图，如图1所示，本申请实施例提供一种Power板测试装置，包括：

MCU控制电路11，报警电路12，检测电路14，MCU控制电路11包括MCU；

MCU控制电路11与待测Power板13连接，用于向待测Power板13发送第一电信号以对待测Power板13进行检测；

报警电路12包括报警器，MCU控制电路11与报警电路12连接，用于向报警电路12发送第二电信号以控制报警器指示检测结果；

检测电路14与MCU控制电路11和待测Power板13连接，检测电路14包括，第一三极管Q1，第二三极管Q2，第一电阻R1，第二电阻R2，第一继电器Relay0，第二继电器Relay1，

第一三极管Q1基极与MCU第六接口P1.5连接，第一三极管Q1集电极与第一电阻R1一端连接，第一电阻R1另一端接电源，第一三极管Q1发射极与第一继电器Relay0第五接口连接，第一继电器Relay0第一接口接电源，第一继电器Relay0第二接口接地，第一继电器Relay0第四接口与待测Power板13第二接口P2连接，第一继电器Relay0第六接口与MCU第十一接口P3.1连接；

第二三极管Q2基极与MCU第七接口P1.6连接，第二三极管Q2集电极与第二电阻R2一端连接，第二电阻R2另一端接电源，第二三极管Q2发射极与第二继电器Relay1第五接口连接，第二继电器Relay1第一接口接电源，第二继电器Relay1第二接口接地，第二继电器Relay1第四接口与待测Power板13第七接口P7连接，第二继电器Relay1第六接口与MCU第十五接口P3.5连接。

图2为本申请实施例提供的一种MCU控制电路的示意图，MCU型号为C8051，如图2所示，MCU的第九接口与电容C1负极和电阻R7一端连接，电阻R7另一端接地，电容C1负极与按键SW一端连接，电容正极与按键另一端连接，电容正极接电源，构成复位电路，MCU的第十八接口与晶振Y1一端和电容C2第一端连接，MCU第十九接口与晶振Y1另一端和电容C3第一端连接，电容C2的第二端与电容C3的第二端接地，构成振荡电路；MCU的第四十接口连接电源，MCU的第三十一接口通过电阻R8连接电源，为MCU供电。

图3为本申请实施例提供的待测Power板的电路示意图，图4为本申请实施例提供的一种待测Power板的连接器示意图，如图3所示，JP3001是待测Power板13的连接器，待测Power板13的第六接口P6接地，连接器JP3001第七接口P7与电阻R9连接，电阻R9另一端与发光二极管D3正极连接，发光二极管D3负极与连接器JP3001第八接口P8连接，连接器JP3001第七接口P7与电阻R10连接，电阻R10另一端与发光二极管D4正极和发光二极管D5正极连接，发光二极管D4负极与连接器JP3001第三接口P3连接，发光二极管D5负极与连接器JP3001第四接口P4连接，连接器JP3001第一接口P1与开关S3连接，开关S3另一端接地，连接器JP3001第五接口P5与开关S4连接，开关S4另一端接地，本申请需检测发光二极管D3，发光二极管D4，发光二极管D5是否可以正常亮灭，开关S3，开关S4是否有效，接口P1-P8之间是否存在短路，保证待测Power板13能功能正常。

通过本实施例提供的装置，MCU控制电路11与待测Power板13连接，通过向待测Power板13发送第一电信号，实现对待测Power板13进行检测，需要说明的是，第一电信号不只是一个电信号，包括检测三个发光二极管的电信号，检测两个开关的电信号，以及检测接口P1-P8之间是否存在短路的电信号，MCU控制电路11向待测Power板13发送用于检测的电信号，并检测三个发光二极管是否正常发光，两个开关是否导通，接口P1-P8之间是否存在短路；当MCU控制电路11检测到检测结果，可通过向报警电路12发送用于表征检测结果的第二电信号，报警电路12通过第二电信号指示相应的结果，使工作人员得到待测Power板13的检测结果。

本实施例不限制报警电路12包含的报警器是什么形式，例如指示灯，蜂鸣器等，本实施例也不显示北京东路指示检测结果的形式，例如接口之间没有短路，第一指示灯不亮，接口之间短路，第一指示灯亮起，三个发光二极管正常亮灭，第二指示灯不亮，三个发光二极管不能正常亮灭，第二指示灯亮起，两个开关导通，蜂鸣器不报警，两个开关不导通，蜂鸣器报警；MCU通过发送电信号控制报警电路指示检测结果，本实施例不对报警电路12如何指示检测结果做具体限制，根据实际需要设计即可。

MCU可通过向待测Power板13的接口赋值不同电平的电信号，使得发光二极管所在回路导通，以判断三个发光二极管是否正常工作，可通过向相邻接口赋值高低电平，判断接口之间是否存在短路。

MCU可通过向待测Power板13的第一接口P1和第五接口P5分别赋值高电平，由于开关S3，开关S4另一端接地，闭合开关，若MCU赋值端口电平被拉低，则说明开关测试通过，否则，开关测试不通过。

图5为本申请实施例提供的一种检测电路14的示意图，如图5所示，第一继电器Relay0和第二继电器Relay1在常闭状态下，第一接口、第三接口、第四接口之间导通，常开状态下第三接口、第四接口、第六接口之间导通。

当MCU第六接口P1.5和MCU第七接口P1.6分别向第一三极管Q1基极和第二三极管Q2基极赋值高电平时，第一继电器Relay0和第二继电器Relay1工作，第三接口、第四接口、第六接口之间导通，第一继电器Relay0的第四接口与待测Power板13的第二接口P2连接，第一继电器Relay0的第六接口与MCU的第十一接口P3.1连接，因此，待测Power板13的第二接口P2和MCU的第十一接口P3.1连接，第二继电器Relay1的第四接口与待测Power板13的第七接口P7连接，所述第二继电器Relay1第六接口与所述MCU第十五接口P3.5连接，因此，待测Power板13的第七接口P7和MCU的第十五接口P3.5连接，另外MCU的第十至第十六接口与待测Power板13第一至第五接口和第八接口、第九接口一一对应连接的；通过MCU向待测Power板13的接口赋值，相邻的接口赋值为高电平和低电平，当MCU检测对应的电平为正常赋值电平时，接口之间短路测试通过；当检测的电平和赋值的电平不相符时，因为短路的存在，会把对应赋值的高电平被相邻的低电平拉低，说明待测Power板13的接口之间存在短路，测试不通过。

当MCU第六接口P1.5和MCU第七接口P1.6分别向第一三极管Q1基极和第二三极管Q2基极赋值低电平时，第一继电器Relay0和第二继电器Relay1不工作，第一接口、第三接口、第四接口之间导通，第一继电器Relay0和第二继电器Relay1的第一接口接电源，因此待测Power板13的第二接口P2和第七接口P7接电源；通过MCU给与待测Power板13的第八接口P8、第三接口P3、第四接口P4赋值低电平，此时，待测Power板13的发光二极管D3，发光二极管D4，发光二极管D5所在电路形成回路，若发光二极管D3，发光二极管D4，发光二极管D5正常亮起，发光二极管D3，发光二极管D4，发光二极管D5功能测试通过，若发光二极管D3，发光二极管D4，发光二极管D5中任意一个不亮，则测试不通过。

本申请所提供的Power板测试装置，包括MCU控制电路11，报警电路12，检测电路14，报警电路12包括报警器，MCU控制电路11与待测Power板13连接，用于向待测Power板13发送第一电信号以对待测Power板13进行检测；MCU控制电路11与报警电路12连接，用于向报警电路12发送第二电信号以控制报警器指示检测结果，检测电路14与MCU控制电路11和待测Power板13连接，检测待测Power板13的接口之间是否短路，及三个发光二极管是否正常工作。通过本申请提供的装置，通过MCU控制电路11发送电信号实现检测待测Power板13与显示测试结果，避免了在PC工装上进行Power板测试，需进行开机动作，等待计算机进入OS页面，显示测试结果较慢的问题。

根据上述实施例，本实施例提供一种报警电路12的优选方案，报警电路包括，第三电阻R3，第四电阻R4，第一指示电路，第二指示电路，第三三极管Q3；

第三电阻R3第一端与MCU的第五接口P1.4连接，第三电阻R3第二端与第三三极管基极连接，第三三极管集电极与第四电阻R4第一端连接，第四电阻R4第二端与第一指示电路和第二指示电路连接；

第一指示电路用于指示待测Power板13检测结果合格，第二指示电路用于指示待测Power板13检测结果不合格。

需要说明的是，本实施例不限制第一指示电路和第二指示电路的具体类型，例如，第一指示电路为绿色指示灯，第二指示电路为红色指示灯，根据实际需要设计即可。

第一指示电路用于指示待测Power板13检测结果合格，第二指示电路用于指示待测Power板13检测结果不合格；当检测合格时，MCU通过第五接口P1.4向第三三极管基极赋值，使第一指示电路导通，指示待测Power板13检测结果合格，当检测不合格时，MCU通过第五接口P1.4向第三三极管基极赋值，使第一指示电路导通，指示待测Power板13检测结果不合格。

通过本实施例提供的报警电路，将检测合格和不合格的情况分开指示，直观的得到检测结果。

图7为本申请实施例提供的一种报警电路的示意图，如图7所示，根据上述实施例，本实施例提供一种优选方案，第一指示电路包括：第五电阻R5，第一发光二极管D1，

第四电阻R4第二端与第五电阻R5第一端连接，第五电阻R5第二端与第一发光二极管D1正极连接，第一发光二极管D1负极与MCU第三接口P1.2连接。

当检测合格时，MCU通过第五接口P1.4向第三三极管基极赋值，通过第三接口P1.2向第一发光二极管D1负极赋值，使第一发光二极管D1导通，指示当前检测合格。

根据上述实施例，本实施例提供一种优选方案，第二指示电路包括：第六电阻R6，第二发光二极管D2；

第四电阻R4第二端与第六电阻R6第一端连接，第六电阻R6第二端与第二发光二极管D2正极连接，第二发光二极管D2负极与MCU第四接口P1.3连接。

当检测不合格时，MCU通过第五接口P1.4向第三三极管基极赋值，通过第四接口P1.3向第二发光二极管D2负极赋值，使第二发光二极管D2导通，指示当前检测合格。

根据上述实施例，为了更直接地指示检测不合格时的检测结果，向工作人员报警，报警电路还包括：蜂鸣器B1，

第三三极管Q3发射极与蜂鸣器B1第一端连接，蜂鸣器B1第二端接地。

当检测不合格时，MCU通过第五接口P1.4向第三三极管基极赋值，使蜂鸣器B1导通，蜂鸣器B1向工作人员报警。

根据上述实施例，待测Power板13的连接器JP3001需要与MCU控制电路11的MCU连接，以使MCU为待测Power板13的接口赋值用于检测，由于MCU与待测Power板13直接连接，可能造成待测Power板13短路，本实施例提供一种优选方案，Power板测试装置，还包括：连接器JP3001-1，图7为本申请实施例提供的一种连接器的示意图，如图7所示，连接器JP3001-1与MCU和待测Power板13连接，连接器JP3001-1与MCU一一对应连接，连接器JP3001-1与待测Power板13一一对应连接。

通过连接器JP3001-1，实现MCU和待测Power板13连接，连接器JP3001-1仅作为连接MCU和待测Power板13的连接装置，不对电信号作任何处理，避免MCU和待测Power板13直接连接可能导致的短路的问题。

根据上述实施例，为了使工作人员控制进行测试的类型，本实施例提供一种优选方案，Power板测试装置，还包括：控制电路，图8为本申请实施例提供的一种控制电路的示意图，如图8所示，控制电路包括：第一开关S1，第二开关S2，

第一开关S1一端与MCU第一接口P1.0连接，第一开关S1另一端接地；MCU用于当第一开关S1闭合时，MCU第一接口P1.0接收到低电平信号，向MCU第六接口P1.5和MCU第七接口P1.6赋值高电平；

第二开关S2一端与MCU第二接口P1.1连接，第二开关S2另一端接地；MCU用于当第二开关S2闭合时，MCU第二接口P1.1接收到低电平信号，向MCU第六接口1.5和MCU第七接口1.6赋值低电平。

当闭合第一开关S1时，MCU第一接口P1.0接收到低电平信号，向MCU第六接口P1.5和MCU第七接口P1.6赋值高电平，即向第一三极管Q1基极和第二三极管Q2基极赋值高电平，检测待测Power板13的接口之间是否存在短路。当闭合第二开关S2时，MCU第二接口P1.1接收到低电平信号，向MCU第六接口1.5和MCU第七接口1.6赋值低电平，即向第一三极管Q1基极和第二三极管Q2基极赋值低电平，检测待测Power板13的三个发光二极管是否正常工作。

为了使本领域人员更好的理解本方案，本实施例提供一种具体的优选方案，Power板测试装置，包括：MCU控制电路11，报警电路12，检测电路14，连接器JP3001-1，控制电路；

其中，MCU控制电路11如图2所示，待测Power板13电路如图3和图4所示，检测电路14如图5所示，报警电路12如图6所示，连接器JP3001-1如图7所示，控制电路如图8所示；

其中，控制电路的第一开关S1一端与MCU第一接口P1.0连接，第一开关S1另一端接地，第二开关S2一端与MCU第二接口P1.1连接，第二开关S2另一端接地；报警电路12包括第三电阻R3，第四电阻R4，第五电阻R5，第六电阻R6，第一发光二极管D1，第二发光二极管D2，第三三极管Q3，蜂鸣器B1；第三电阻R3第一端与MCU的第五接口P1.4连接，第三电阻R3第二端与第三三极管基极连接，第三三极管集电极与第四电阻R4第一端连接，第四电阻R4第二端与第五电阻R5第一端连接，第五电阻R5第二端与第一发光二极管D1正极连接，第一发光二极管D1负极与MCU第三接口P1.2连接，第四电阻R4第二端与第六电阻R6第一端连接，第六电阻R6第二端与第二发光二极管D2正极连接，第二发光二极管D2负极与MCU第四接口P1.3连接，第三三极管Q3发射极与蜂鸣器B1第一端连接，蜂鸣器B1第二端接地；检测电路14的第一三极管Q1基极与MCU第六接口P1.5连接，第一继电器Relay0第四接口与待测Power板13第二接口P2连接，第一继电器Relay0第六接口与MCU第十一接口P3.1连接，第二三极管Q2基极与MCU第七接口P1.6连接，第二继电器Relay1第四接口与待测Power板13第七接口P7连接，第二继电器Relay1第六接口与MCU第十五接口P3.5连接；MCU控制电路11的MCU的接口P3.0-P3.6与连接器JP3001-1的接口P1-P8（P6接地）一一对应连接，连接器JP3001-1的接口P1-P8（P6接地）与待测Power板13的连接器JP3001的接口P1-P8（P6接地）一一对应连接。

具体地，当闭合开关S1，断开开关S2时，MCU第一接口P1.0接收到低电平信号，向MCU第六接口P1.5和MCU第七接口P1.6赋值高电平，第一继电器Relay0和第二继电器Relay1工作，第三接口、第四接口、第六接口之间导通，第一继电器Relay0的第四接口与待测Power板13的第二接口P2连接，第一继电器Relay0的第六接口与MCU的第十一接口P3.1连接，因此，待测Power板13的第二接口P2和MCU的第十一接口P3.1连接，第二继电器Relay1的第四接口与待测Power板13的第七接口P7连接，第二继电器Relay1第六接口与所述MCU第十五接口P3.5连接，因此，待测Power板13的第七接口P7和MCU的第十五接口P3.5连接，另外MCU的第十至第十六接口与待测Power板13第一至第五接口和第八接口、第九接口一一对应连接的；通过MCU向待测Power板13的接口赋值，相邻的接口赋值为高电平和低电平，当MCU检测对应的电平为正常赋值电平时，接口之间短路测试通过，MCU控制第一发光二极管D1导通，指示短路测试通过，当检测的电平和赋值的电平不相符时，MCU控制第二发光二极管D2和蜂鸣器B1导通，指示短路测试不通过。

具体地，当闭合开关S2，断开开关S1时，MCU第二接口P1.1接收到低电平信号，向MCU第六接口1.5和MCU第七接口1.6赋值低电平，第一继电器Relay0和第二继电器Relay1不工作，第一接口、第三接口、第四接口之间导通，第一继电器Relay0和第二继电器Relay1的第一接口接电源，因此待测Power板13的第二接口P2和第七接口P7接电源；通过MCU给与待测Power板13的第八接口P8、第三接口P3、第四接口P4赋值低电平，此时，待测Power板13的发光二极管D3，发光二极管D4，发光二极管D5所在电路形成回路，若发光二极管D3，发光二极管D4，发光二极管D5正常亮起，发光二极管D3，发光二极管D4，发光二极管D5功能测试通过，若发光二极管D3，发光二极管D4，发光二极管D5中任意一个不亮，则测试不通过。

具体地，当断开开关S1、S2时，MCU通过向接口P3.0、P3.4赋值高电平，通过连接器JP3001-1向待测Power板13的连接器JP3001的第一接口P1和第五接口P5为高电平，当关闭开关S3、S4时，由于物理连接关系，第一接口P1和第五接口P5对应的高电平会因为接地，高电平会被强制拉低，MCU检测到接口P3.0、P3.4电平被拉低，MCU控制第二发光二极管D2和蜂鸣器B1导通，指示开关测试不通过。

通过本申请提供的装置，通过MCU控制电路11发送电信号实现检测待测Power板13与显示测试结果，避免了在PC工装上进行Power板测试，需进行开机动作，等待计算机进入OS页面，显示测试结果较慢的问题。

以上对本申请所提供的Power板测试装置进行了详细介绍。说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。对于实施例公开的装置而言，由于其与实施例公开的方法相对应，所以描述的比较简单，相关之处参见方法部分说明即可。应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请原理的前提下，还可以对本申请进行若干改进和修饰，这些改进和修饰也落入本申请权利要求的保护范围内。

还需要说明的是，在本说明书中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。