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微控制器、微控制器的测试方法以及包含微控制器的系统

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摘要

本发明提供一种微控制器的测试方法。测试方法包括：由使用者经由外部的除错工具设定测试条件以及观察点，其中观察点指向微控制器的存储器；由微控制器中的控制电路判断存储器的数据是否满足测试条件；以及当存储器的数据满足测试条件时，由控制电路控制微控制器输出触发信号，其中触发信号用以触发外部的仪器。另外，本发明还提供一种微控制器及包括微控制器的系统。

著录项

  • 公开/公告号CN114690683A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-07-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 新唐科技股份有限公司;

    申请/专利号CN202111612064.3

  • 发明设计人 邱达进;涂结盛;

    申请日2021-12-27

  • 分类号G05B19/042;

  • 代理机构北京三友知识产权代理有限公司;

  • 代理人王涛;周永君

  • 地址 中国台湾新竹科学工业园区

  • 入库时间 2023-06-19 15:50:55

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-07-01

    公开

    发明专利申请公布

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