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先导发展速度测量方法和装置

摘要

本申请涉及一种先导发展速度测量方法和装置。通过获取绝缘子串在冲击电压下的闪络过程图像和闪络过程的低电压侧电流,根据闪络过程图像确定绝缘子串的正负先导发展长度,以及根据低电压侧电流确定绝缘子串的正负先导的发展时间,然后根据正负先导发展长度正负先导的发展时间,确定绝缘子串的正负先导发展的平均速度。保证了测量绝缘子串闪络时正负极性先导发展平均速度的准确性,且提高了测量绝缘子串闪络时正负极性先导发展平均速度的便利性。

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  • 2022-09-06

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