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用于外差干涉测量的移频器以及具有此类移频器的用于外差干涉测量的装置

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摘要

本发明涉及一种用于外差干涉测量的移频器，所述移频器包括：芯片；输入波导，所述输入波导被配置为引导光束；至少四个相位调制器，所述至少四个相位调制器各自被布置为接收来自所述输入波导的所述光束并被配置为调制所述光束的相位；输出组合器，所述输出组合器被布置为使每个相位调制器调制的所述光束发生干涉；第一输出波导，所述第一输出波导耦合到所述输出组合器并被配置为接收在所述输出组合器处相长干涉的调制光束；第二输出波导，所述第二输出波导耦合到所述输出组合器并被配置为接收在所述输出组合器处相消干涉的调制光束，其中所述输入波导、所述相位调制器、所述输出组合器、所述第一输出波导和所述第二输出波导布置在所述芯片上。

著录项

  • 公开/公告号CN115039022A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-09-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 洛克利光子有限公司;

    申请/专利号CN202080096230.6

  • 发明设计人 R·格罗特;

    申请日2020-12-11

  • 分类号G02F1/025;G02F1/01;G02F1/225;

  • 代理机构中国专利代理(香港)有限公司;

  • 代理人李湘;陈岚

  • 地址 英国柴郡

  • 入库时间 2023-06-19 16:44:31

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-09-09

    公开

    国际专利申请公布

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