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应用于SPI NAND FLASH芯片的功能测试方法和SPI测试平台

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摘要

本申请涉及一种应用于SPI NAND FLASH芯片的功能测试方法和SPI测试平台，涉及芯片测试技术领域，所述方法应用于SPI测试平台，SPI测试平台至少包含第一MCU、第二MCU、命令接收缓存和结果发送缓存，第二MCU支持QSPI协议，方法包括：第一MCU接收测试主机发送的SPI NAND FLASH芯片的功能测试命令；第一MCU将功能测试命令存储在命令接收缓存中；第二MCU检测到命令接收缓存中存有功能测试命令时，将功能测试命令发送至SPI控制器；第二MCU接收SPI控制器反馈的功能测试结果，将功能测试结果存储在结果发送缓存中；第一MCU检测到结果发送缓存中存有功能测试结果时，将功能测试结果反馈给测试主机。采用本申请，可以缩短SPI测试时间，提高SPI NAND FLASH芯片的测试效率。

著录项

  • 公开/公告号CN115061865A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-09-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 南京扬贺扬微电子科技有限公司;

    申请/专利号CN202210701869.3

  • 发明设计人 郑文豪;

    申请日2022-06-21

  • 分类号G06F11/22;

  • 代理机构北京维正专利代理有限公司;

  • 代理人刘奕

  • 地址 211800 江苏省南京市浦口区桥林街道步月路29号12幢-80

  • 入库时间 2023-06-19 16:49:13

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-09-16

    公开

    发明专利申请公布

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