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一种亚像素级点扩散函数测试系统及方法

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本发明提供一种亚像素级点扩散函数测试系统及方法，其中亚像素级点扩散函数测试系统包括：星点目标模拟器，将所述光源模拟为星点，所述星点目标模拟器包括星点分划板；微位移调整台，所述星点分划板安装于所述微位移调整台，所述微位移调整台用于使所述星点分划板实现二维平动；微角度调整台，所述微位移调整台安装于所述微角度调整台，所述微位移调整台用于使所述微位移调整台实现三维滚转；图像显示装置，接收透过所述星点，成像并计算质心。采用本方案的亚像素级点扩散函数测试系统能够实现亚像素级点扩散函数的精确标定。

著录项

公开/公告号CN115144160A

专利类型发明专利
公开/公告日2022-10-04

原文格式PDF
申请/专利权人中国科学院长春光学精密机械与物理研究所;
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申请/专利号CN202210762622.2
发明设计人李云辉;
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申请日2022-06-30
分类号G01M11/02;
代理机构长春中科长光知识产权代理事务所(普通合伙);
代理人郭婷
地址 130033 吉林省长春市经济技术开发区东南湖大路3888号
入库时间 2023-06-19 17:02:55

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法律状态
2022-10-04

公开

发明专利申请公布

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