首页> 中国专利> 基于反褶积成像条件的最小二乘偏移成像方法、设备及存储介质

基于反褶积成像条件的最小二乘偏移成像方法、设备及存储介质

摘要

本发明涉及地球物理勘探技术领域,为基于反褶积成像条件的最小二乘偏移成像方法、设备及存储介质,本发明通过在最小二乘偏移成像方法中构建频率域波场传播算子,根据反褶积成像条件构建互为共轭的正演算子和偏移算子,通过对观测地震记录进行改造,从而实现等价于应用反褶积成像条件进行成像结果更新,使得到的地下反射率模型更加精确,可以有效消除多次波成像结果中的串扰噪声,提高成像结果的分辨率和信噪比。同时保证了最小二乘偏移成像方法的稳定性和收敛性,加快算法收敛速度,使最小二乘偏移方法能够得到更广泛的应用。

著录项

  • 公开/公告号CN115166827A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-10-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中山大学;

    申请/专利号CN202210830668.3

  • 发明设计人 卢绍平;吴涵;张树奎;

    申请日2022-07-15

  • 分类号G01V1/34;G01V1/28;

  • 代理机构广州市华学知识产权代理有限公司;

  • 代理人林梅繁

  • 地址 510275 广东省广州市海珠区新港西路135号

  • 入库时间 2023-06-19 17:07:46

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-10-11

    公开

    发明专利申请公布

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号